Odporovými metodami jsou určovány odporové poměry v různých místech a hloubkách měřením na povrchu.
Odporové metody jsou používány ve dvou variantách – při profilování se sledují změny odporů v horizontálním směru podél geofyzikálního profilu, při sondování ve vertikálním směru pod měřeným bodem. Odporovými metodami jsou určovány odporové poměry v různých místech a hloubkách měřením na povrchu. Proudovými elektrodami AB je do země vháněn proud I, měřicími elektrodami MN se měří vzniklé napětí ΔV. Z hodnot I a ΔV měřených odporovými aparaturami se následně počítá měrný odpor (rezistivita) horninového prostředí ρz.
Pomocí metody elektrického odporového profilování jsou mapovány kontakty hornin o různých elektrických odporech a průběhy strmě ukloněných elektricky vodivějších linií, kterými jsou i tektonické poruchy a zlomové systémy (zvýšená porozita, nasycení pórů vodou, zvětrání živců na jíly). Pro plošné mapování uvedených fenoménů je vhodné nesymetrické uspořádání elektrod.
Odporové vertikální elektrické sondování (VES) slouží k určení změn měrných odporů prostředí s rostoucí hloubkou. Při měření VES se používá tzv. Schlumbergerovo symetrické uspořádání AMNB, MN je výrazně menší než AB. Hloubkový dosah hef je řízen vzdáleností proudových elektrod AB od středu uspořádání, obecně se předpokládá, že hloubkový dosah je roven cca AB/4, v konkrétních podmínkách je silně závislý na odporových vlastnostech horninového prostředí a jeho homogenitě. Výsledkem interpretace VES v daném bodě je vertikální odporový profil získaný řešením obrácené úlohy. Při měření série bodů VES podél profilu lze tak sestavit 2D odporový řez linií profilu.
Výsledkem měření a zpracování dat je pak naměřený izoohmický a interpretovaný 2D odporový řez pod měřeným profilem, který je sestaven vhodným softwarem. Metoda zjišťuje odporové změny prostředí jak v horizontálním, tak vertikálním směru. Pro dosažení srovnatelného hloubkového dosahu jako při odporovém sondování je třeba použít velké množství elektrod a dlouhé kabely. Roste tím časová a ekonomická náročnost měření.